Билеты к экзаменам по химии: «дать ответы на вопросы по сути коротко объм не регламентирован» заказ № 1582663

Выполнить 26.06 до 18-00. 1.Дифракция медленных электронов. Принципиальная схема прибора. Принципы формирования аналитического сигнала в методе дифракции медленных электронов. Полезная информация. Причины использования вакуума. 2.Дифракция медленных электронов. Принципиальная схема прибора. Принципы формирования аналитического сигнала в методе дифракции быстрых электронов. Полезная информация. Причины использования вакуума. 3.Хемосорбция. Принципы метода. Импульсное титрование. Полезная информация. 4.Эффекты, вызываемые рентгеновским квантами в веществе. 5.Рентгенофотоэлектронная спектроскопия. Принципы формирования аналитического сигнала. Полезная информация. Причины использования вакуума. Принципиальная схема прибора. 6.Оже-электронная спектросокпия. Принципы формирования аналитического сигнала. Полезная информация. Причины использования вакуума. Принципиальная схема прибора. 7.Вторично-ионная масс-спектрометрия. Принципы формирования аналитического сигнала. Полезная информация. Причины использования вакуума. Принципиальная схема прибора. 8.Картирование поверхности в РФЭС, ЭОС и ВИМС 9.Сравнение пространственного разрешения при элементном картировании в анализах методами РФЭС, ЭОС, ВИМС 10.Зависимость длины свободного пробега от кинетической энергии электрона. 11.Термопрограммируемая десорбция. Принципы метода. Полезная информация. 12.Зондовая микроскопия (атомно-силовая, туннельная, магнито-силовая). Виды сканирующей зондовой микроскопии. Принципы формирования аналитического сигнала. Полезная информация. Причины использования вакуума. Принципиальная схема прибора. 13.Релаксация поверхности. Реконструкция поверхности. Структура реальной поверхности, дефекты реальной поверхности.