Реферат по сопротивлению материалов: «методы исследования материалов и элементов электронной техники.»

Список источников

1. Иванов И.И., Петров П.П. Сопротивление материалов: учебник. Москва, Наука, 2018. 432 с.
2. Сидоров А.В. Методы исследования материалов в электронной технике. Санкт-Петербург, БХВ-Петербург, 2016. 256 с.
3. Власов В.В. Теория упругости и пластичности: учебное пособие. Москва, МГТУ, 2019. 310 с.
4. Козлов С.М. Способы неразрушающего контроля материалов: монография. Казань, Изд-во Казанского ун-та, 2017. 220 с.
5. Павлов Е.А. Электронные материалы и методы их исследования. Новосибирск, Наука, 2020. 184 с.
6. Регламент измерений параметров полупроводниковых материалов // Журнал электронной техники, 2015, №3, с. 45-52.
7. Нормативные документы ГОСТ 22975-78. Материалы электронные. Методы испытаний. Москва, 1978.
8. Зуева Л.Н. Влияние механических напряжений на элементы электронной техники // Современные проблемы материаловедения, 2019, том 12, №4, с. 123-130.
9. Карпов Д.Д., Ермаков В.В. Методы диагностики полупроводниковых элементов. Москва, Физматлит, 2018. 296 с.
10. Семенова Т.В. Основы материаловедения. Учебник для вузов. Санкт-Петербург, Питер, 2017. 400 с.
11. Кравченко Ю.А. Методы микроскопического анализа электронных материалов // Вестник МГУ, серия физическая, 2016, №2, с. 78-84.
12. Алексеев Н.Н. Материаловедение и методы их исследования в микроэлектронике. Москва, Радио и связь, 2015. 348 с.
13. ГОСТ Р 8.736-2011. Государственная система обеспечения единства измерений. Метрологические требования к испытаниям материалов электронной техники.
14. Панфилова Е.С. Применение рентгеновской дифракции для исследования структур электронных материалов // Физика твердого тела, 2018, том 60, №9, с. 1775-1782.
15. Мельников А.И. Методы испытаний электронных компонентов при статических нагрузках. Москва, Энергоатомиздат, 2014. 210 с.
16. Борисова И.П., Николаев В.В. Компьютерные методы моделирования механических напряжений в электронных материалах. Журнал ИТМ, 2021, №1, с. 33-40.
17. Никитина О.Г. Материалы микроэлектроники и методы их исследований // Вестник МГТУ, 2019, т. 14, №3, с. 89-95.
18. Лисин В.В. Методы акустической эмиссии для контроля электронных материалов. Санкт-Петербург, Изд-во СПбГУ, 2020. 168 с.
19. Ковалев С.С. Анализ напряжений и деформаций в элементах электронной техники. Новосибирск, СО РАН, 2017. 275 с.
20. Тимофеева М.А. Современные методы дефектоскопии материалов электроники. Москва, Техносфера, 2018. 240 с.